400-633-0908
Material analysis
材料分析
材料分析
證書編號：201719121253
證書編號：L7973
目的：檢測涂鍍層厚度或涂鍍層缺陷。
檢驗方法
| 金相顯微鏡法 | 采用金相顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度。一般厚度檢測需要大于1um |
| 庫倫法 | 適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr等。 |
| X-Ray法 | 適用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度。包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。 |
相關測試圖片
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| 高分子基體+預鍍鎳+鍍銅+銅鎳 | 金屬基體 鍍銅鍍鎳 | 漆膜（底漆+色漆+清漆） |
檢測步驟
顯微鏡法測試步驟：切割（鑲嵌）——拋光——直接觀察（侵蝕后觀察）——測量
測試標準
GB/T 6462 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法
GB/T 4956 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁性法
GB/T 4955 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 陽極溶解庫侖法
GB/T 4957 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 渦流法
GB/T 37361 漆膜厚度的測定 超聲波測厚儀法
JB/T 7503 金屬覆蓋層橫截面厚度掃描電鏡測量方法
QB/T 3817 輕工產品金屬鍍層和化學處理層的厚度測試方法 金相顯微鏡法
ASTM B748-90 Standard Test Method for Measurement of Thickness of Metallic Coatings by Measurement of Cross Section with a Scanning Electron Microscope
ISO 1463 Metallic and oxide coatings—Measurement of coating thickness- Microscopical method
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